skip to main content

ANALISIS PENGURANGAN DEFECT PRODUKSI DENGAN MENGGUNAKAN METODE SIX SIGMA PADA UNIT PAINTING SMARTPHONE MERK POLYTRON (Studi Kasus pada PT. Hartono Istana Teknologi Kudus)

*Muhammad Sya’roni  -  Departemen Teknik Industri, Indonesia
Hery Suliantoro  -  Departemen Teknik Industri, Indonesia

Citation Format:
Abstract

PT Hartono Istana Teknologi adalah salah satu perusahaan yang bergerak di bagian produksi barang barang elektronika.  Pada akhir tahun 2016 PT.HIT mulai melakukan produksi handphone android. Pada pembuatan produksi hp tersebut salah satu proses produksi yang dikerjakan di pabrik Kudus adalah pembuatan Battery cover. Berdasarkan data laporan produksi lini proses Top coat pada 14 desember 2016 – 4 januari 2017, diketahui bahwa jumlah produk yang tergolong dalam kritera defect nilainya cukup tinggi. Persentase jumlah defect dibandingkan dengan total produksi secara keseluruhan adalah 16%. Nilai ini perlu untuk direduksi karena semakin banyaknya produk defect yang dihasilkan maka semakin banyak juga kerugian yang harus ditanggung perusahaan atas material yang terbuang percuma. Salah satu metode yang dapat digunakan oleh perusahaan untuk meminimalisir kuantitas produk kecacatan adalah dengan menggunakan metode six sigma. Six sigma merupakan target kualitas dengan nilainya yaitu 3,4 DPMO (Defect per Million Oppurtunity) atau 3,4 kecacatan dari per sejuta kesempatan. Adanya pencapaian six sigma yang 3,4 DPMO maka dapat dikatakan realitas untuk dicapai dari kualitas yang berdasarkan pada zero defect. Pengurangan kuantitas kecacatan dalam penelitian menggunakan metode six sigma dengan pembahasan DMAIC (Define, Measure, Analize, Improve, Control). Dari hasil analisis dan penelitian yang telah dilakukan ternyata jumlah produk kecacatan pada lini topcoat unit painting PT. Hartono Istana Teknologi berada di tingkat nilai sigma 3,374 dengan DPMO sebesar 30.438 dari hal tersebut dapat diidentifikasikan bahwa ternyata kualitas produk masih berada jauh dari tingkat produk 6 sigma. Dengan penggunaan alat analisis diagram sebab-akibat dapat diketahui faktor penyebab kerusakan produk dalam produksi yaitu berasal dari manusia, mesin, bahan baku dan lingkungan kerja.

 

(Analysis Of  Defect Production Reduction Using Six Sigma Method In Painting Unit Smartphone Merk Polytron). PT Hartono Istana Teknologi is one of the companies engaged in the production of electronics goods. At the end of 2016 PT.HIT began to produce android phones. In making the production of android phones, one of the production process undertaken at the Kudus factory is the manufacture of Battery cover. Based on the production report of Top Coat process line on 14 December 2016 - 4 January 2017, it is known that the number of products belonging to the criteria of defect is quite high. The percentage of total defect compared to the total production as a whole is 16%. This value needs to be reduced as more defect products are generated the more losses the company will incur on wasted material. One method that can be used by companies to minimize the quantity of disability products is by using the six sigma method. Six sigma is a quality target of 3.4 DPMO (Defect per Million Oppurtunity) or 3.4 defects per million opportunities. The existence of the achievement of six sigma 3.4 DPMO it can be said the reality to be achieved from the quality based on zero defect. Reduction in the quantity of disability in the study using six sigma method with DMAIC discussion (Define, Measure, Analize, Improve, Control). From the results of analysis and research that has been done turns out the number of defects products on topcoat line painting unit PT. Hartono Istana Teknologi is at the level of sigma value 3,374 with DPMO of 30,438 from it can be identified that the product quality is still far from 6 sigma product level. With the use of analysis tools causality diagram can be known factors causing damage to the product in the production that comes from humans, machinery, raw materials and work environment.

Fulltext View|Download
Keywords: Six Sigma; DMAIC (Define, Measure, Analize, Improve, Control); DPMO (Defect per Million Oppurtunity); Diagram Sebab-Akibat

Last update:

No citation recorded.

Last update:

No citation recorded.