PERANCANGAN PERANGKAT LUNAK ALAT UJI BIPOLAR JUNCTION TRANSISTOR BERBASIS MIKROKONTROLER

*Jumiasih Jumiasih  -  Departemen Teknik Elektro, Universitas Diponegoro, Indonesia
Trias Andromeda scopus  -  Departemen Teknik Elektro, Universitas Diponegoro, Indonesia
Munawar Agus Riyadi scopus  -  Departemen Teknik Elektro, Universitas Diponegoro, Indonesia
Received: 23 Sep 2018; Published: 25 May 2019.
Open Access Copyright 2019 TRANSIENT
Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

Citation Format:
Article Info
Section: Articles
Language: ID
Full Text:
Statistics: 108 55
Abstract

Transistor merupakan salahsatu komponen penting dalam rangkaian elektronika. Transistor telah digunakan hampir disemua rangkaian elektronika. Namun, permasalahan sering timbul ketika ingin mengaplikasikan transistor ke dalam sebuah rangkaian elektronika, karena transistor sangat rentan terhadap kerusakan. Transistor bisa rusak karena suhu yang terlalu tinggi, kesalahan pengukuran, maupun kesalahan pemasangan dalam rangkaian. Hal ini karena cukup sulit mengetahui jenis maupun kaki-kaki dari transistor yang akan digunakan apabila tanpa panduan dari datasheet transistor tersebut. Bahkan datasheet transistor tidak memberikan data yang pasti mengenai nilai penguatan transistor (hanya berupa range maksimum-minimum). Pengecekan secara manual menggunakan multimeter dapat dilakukan untuk menentukan kaki-kaki transistor beserta nilai penguatannya, namun cara tersebut kurang praktis. Pengecekan kaki-kaki transistor dengan cara tersebut harus melalui beberapa tahapan dan ketelitian serta membutuhkan waktu yang cukup lama. Dalam Tugas Akhir ini, dirancang suatu perangkat pengujian transistor yang dapat membantu dalam pengecekan transistor BJT, melakukan identifikasi jenis transistor NPN dan PNP, identifikasi kaki-kaki transistor, mengetahui nilai penguatan (hFE) serta nilai tegangan forward (vf) dari transistor tersebut.

 

Keywords
Alat uji; Transistor; BJT; Mikrokontroler

Article Metrics: